Kett Scientific 薄膜厚度计 Elnix 8500Basic 无线双探头

发布时间:2025-05-23 分类: 理化分析 5次阅读

Kett Scientific 薄膜厚度计 Elnix 8500Basic 无线双探头,Kett Scientific 薄膜厚度计 Elnix 8500Basic 无线双探头,

产品规格

主体 Elnics 8500 基本型
探测 无线双探头
测量范围 0~5000μm
测量目标 ・磁性金属(铁/钢)上的非磁性涂层 ・非磁性金属(有色金属)上的绝缘涂层
测定方式 电磁诱导式・涡电流式
测量精度 0~2000μm以下:±1μm+2%,2000μm以上:±3.5%(2000μm显示为2.00mm)
电源 2节AA碱性电池(1.5V电池)
标准配件 铁底座、铝底座、3块标准板(100、1000、3000μm)、便携包、背带、软包、使用说明书、简易指南
分解能 100μm以下:0.1μm 1000μm以下:1μm 1000μm以上:10μm
数据存储器数量 100点
批次数 1个
用户校准(校准曲线) 1 件
附加功能 各种设定10种
动作 温度 0~50℃
尺寸 67(宽)×124(深)×33(高)毫米
质量 0.12公斤
数量 1台

,0257681942