日本SSD进口H0110-S4B测量仪器MEASURES

发布时间:2025-06-17 分类: 精密仪器 5次阅读

日本SSD进口H0110-S4B测量仪器MEASURES 产品型号:H0110-S4B 产品品牌:SSD离子风机 产品简介: 静电衰减测量仪适用于检查材料的静电扩散率,通过用电晕放电产生的空气离子照射样品使样品带电,然后在停止照射空气离子后检查电荷的衰减曲线。 。全新升级为H0110-S4B。 该设备符合JIS L1094-1980半衰期测量仪的要求,即测试纺织品和针织物静电性能的方法。(如果需要用20mm的探头高度进行校准,请在购买时注明。) 作为使样品带电的方法,使用通过电晕放电产生的空气离子的照射,通过选择电晕放电的极性和施加电压,可以使样品带正电或负电。 可以测量所有片状样品,例如薄膜、板材、线、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制,请联系 。 Honest 可以进行演示测量。请与 联系以获取更多信息。 诚实数据分析系统已升级至V3。H0110-S4B 还支持 Honest。 为了将V3连接到H0110-S4A,需要对主机进行修改。对于其他旧型号,可能无法修改连接,请联系 。 从H0110-S4开始,校准时的标准探头高度为15毫米,符合JIS。如需20mm校准,请在订购时注明。 购买时注明AC100V 50Hz/60Hz。 产品介绍. 日本SSD进口H0110-S4B测量仪器MEASURES 日本SSD进口H0110-S4B测量仪器MEASURES 静电衰减测量仪适用于检查材料的静电扩散率,通过用电晕放电产生的空气离子照射样品使样品带电,然后在停止照射空气离子后检查电荷的衰减曲线。 。全新升级为H0110-S4B。 该设备符合JIS L1094-1980半衰期测量仪的要求,即测试纺织品和针织物静电性能的方法。(如果需要用20mm的探头高度进行校准,请在购买时注明。) 作为使样品带电的方法,使用通过电晕放电产生的空气离子的照射,通过选择电晕放电的极性和施加电压,可以使样品带正电或负电。 可以测量所有片状样品,例如薄膜、板材、线、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制,请联系 。 Honest 可以进行演示测量。请与 联系以获取更多信息。 诚实数据分析系统已升级至V3。H0110-S4B 还支持 Honest。 为了将V3连接到H0110-S4A,需要对主机进行修改。对于其他旧型号,可能无法修改连接,请联系 。 从H0110-S4开始,校准时的标准探头高度为15毫米,符合JIS。如需20mm校准,请在订购时注明。 购买时注明AC100V 50Hz/60Hz。