hioki日本进口日置 C测试仪 3506-10 产品型号：3506-10 产品品牌：日本hioki日置 产品简介： ● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量 ● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度 ● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量 ● 根据BIN的测定区分容量 产品介绍. hioki日本进口日置 C测试仪 3506-10 hioki日本进口日置 C测试仪 3506-10 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度 kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量 根据BIN的测定区分容量 测量参数 C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) 测量范围 C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9 基本精度 (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 测量频率 1kHz, 1MHz 测量信号电平 500mV, 1V rms 输出电阻 1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) 显示 LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) 测量时间 1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz 功能 BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 40VA 体积及重量 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg 附件 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1